南开大学李红时、罗景山教授《Nature Communications》:分子限域策略突破界面瓶颈,助力反型钙钛矿太阳能电池性能提升!

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  自组装分子(SAMs)层提升反型钙钛矿太阳能电池(PSCs)效率方面发挥了重要作用。然而,SAMs分子间存在的π-π相互作用容易引发自聚集与纵向堆叠,进而降低其在基底上的覆盖率与均匀性,削弱界面接触质量,限制器件效率与稳定性的进一步提升。

  在本研究中,南开大学李红时副研究员、罗景山教授等提出了一种基于分子限域的新型界面调控策略,为进一步提升反型钙钛矿太阳能电池性能提供了新思路。该研究通过首先NiOx表面引入全氟-2-甲基-3-杂己酸PFA)构建分子限域结构,随后再嵌入起主要空穴传输作用的SAMs,通过二者共同得到了完整的分子限域界面。该策略有效抑制了SAMs的自聚集和纵向堆叠,提高了其在基底上的覆盖率与均匀性,显著改善界面接触,并提升了钙钛矿薄膜的结晶质量。此外,优化后的器件实现了26.84%能量转换效率(认证效率为26.79%),填充因子达86.61%。同时,该器件表现出优异的运行稳定性,在ISOS-L-1标准1个太阳光强下最大功率点跟踪800小时后,仍可保持初始效率的94.6%

文章亮点:

1.利用PFA分子的全氟基团之间的相互排斥作用,在NiOx表面形成不连续亚单层作为限域模板,有效抑制了Me-4PACzπ-π堆积自聚集

2.限域界面中的PFA分子可通过氢键偶极相互作用与钙钛矿埋底界面发生耦合,进一步提升钙钛矿薄膜的稳定性。

3.基于PFA基分子限域界面调控策略的器件实现了26.84%的能量转换效率,且表现出优异的运行稳定性

1|分子限域界面的构建。(a) PFA各原子的电荷分布。(b, c) ITO/NiOxITO/NiOx/PFA基底的F 1sNi 2p3/2 XPS谱图。(d) PFA分子通过与NiO (001)表面−OH反应而吸附于NiO (001)表面的结构。(e-j) ITO/NiOx薄膜、ITO/NiOx/PFA0.25 mg mL-1薄膜ITO/NiOx/PFA1.0 mg mL-1薄膜的AFM-IR形貌图及对应1,770 cm-1吸收分布(k) 不同浓度PFA处理后基底上H2O的接触角。(l) PFA分子在NiOx表面离散分布的示意图。

2SAMs负载及其界面性质。(a) Me-4PACzPFA的二聚体结合能。(b) Me-4PACzPFANiOx基底上的覆盖因子。(c, d) 对照组薄膜的AFM-IR形貌图及对应1403 cm-1吸收分布(e, f) 实验组薄膜的AFM-IR形貌图及对应1,770 cm-1吸收分布(g, h) 实验组薄膜的AFM-IR形貌图及对应1403 cm-1吸收分布Me-4PACz吸附于单纯NiO001表面i)和含PFA基分子限域结构NiO001表面j形成的平衡异质结界面结构的俯视和侧视图。(k, l) 表面SAMs覆盖分布模拟图。(m) Me-4PACzNiOxPFA/NiOx基底上的XRD图谱。(n) 对照组实验组基底上SAMs锚定过程的示意图。

 

3|对钙钛矿薄膜的影响。(a, b) 对照组实验组钙钛矿薄膜在旋涂及加热阶段的原位GIWAXS强度演化过程图(旋涂结束后立即开始加热过程,温度由25升至100)。(c, d) 对照组实验组样品的原位PL映射图。(e) PFA处理前后F 1sXPS谱图。(f) 对照组实验组样品埋底界面的的Pb 4f XPS谱图。(g, h) PFA与钙钛矿共混前后N−H键和C−F键的ATR-FTIR谱图。(i, j) 对照组实验组样品的共聚焦PL映射图。(k) 对照组实验组样品的TRPL衰减曲线。(l, m) 对照组实验组样品埋底界面的SEM图像。(n) 对照组实验组样品的截面SEM图像。

4|器件性能。(a) 实验组器件结构示意图。(b) 对照组和实验组器件反扫电流密度-电压(J-V)曲线。(c) 对照组和实验组器件能量转换效率(PCE)统计分布(d) 通过TPCTPV分析得到的载流子寿命统计图(e, f) 由调制电瞬态测试推导得到的器件电压依赖电荷提取效率(ηext)和电压依赖电荷收集效率(ηc)。(g) 根据PLQY测试计算得到的准费米能级分裂(QFLS)值以及由光强PLQY测试推导得到的对照组及实验组钙钛矿薄膜的伪J-V曲线。(h) 填充因子(FF)损分析。(i) 对照组和实验组器件的运行稳定性曲线(j) 对照组和实验组器件的65热稳定性曲线

 

文章信息

期刊:Nature Communications

题目:Molecular Confinement for Enhanced Interfacial Contact and Performance in Inverted Perovskite Solar Cells

作者Guichun Yang#, Letian Chen#, Linrui Duan#, Jiazhao Fan, Xiaolong Ren, Wenjie Ji, Xiarong Liu, Yifei Wang, Zhaochen Suo, Yongsheng Liu, Yusheng Li, Yiming Li, Yang Yang, Peng Chen, Sheng Liu, Xueping Gao, Likai Zheng, Jingshan Luo* & Hongshi Li*

接受日期19 April, 2026

原文链接https://doi.org/10.1038/s41467-026-72115-2